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EPK涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理和優(yōu)點(diǎn)
更新時(shí)間:2019-04-19 點(diǎn)擊次數(shù):1622次
EPK涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。
EPK涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型:
1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測(cè)量精度高。
2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
3.超聲波測(cè)厚法:適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴,測(cè)量精度也不高。
4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。
5.放射測(cè)厚法:此處儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合。
國(guó)內(nèi)目前使用為普遍的是第1/2兩種方法。
EPK涂層測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn):
零位穩(wěn)定:
所有EPK涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移,確保準(zhǔn)確測(cè)量。
無(wú)需校準(zhǔn):
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度,激光測(cè)距儀的原理要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償:
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
EPK涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型:
1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測(cè)量精度高。
2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
3.超聲波測(cè)厚法:適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴,測(cè)量精度也不高。
4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。
5.放射測(cè)厚法:此處儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合。
國(guó)內(nèi)目前使用為普遍的是第1/2兩種方法。
EPK涂層測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn):
零位穩(wěn)定:
所有EPK涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移,確保準(zhǔn)確測(cè)量。
無(wú)需校準(zhǔn):
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度,激光測(cè)距儀的原理要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償:
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),以保證不同溫度下的測(cè)量精度。